SuperViewW白光三維表面形貌儀測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
更新時間:2025-07-02
產品型號:SuperViewW1
瀏覽量:382
SuperViewW國產白光干涉三維形貌儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。
更新時間:2025-06-24
產品型號:SuperViewW1
瀏覽量:376
SuperViewW微觀3D形貌白光干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
更新時間:2025-06-18
產品型號:SuperViewW1
瀏覽量:450
SuperViewW白光干涉晶圓3D形貌測量儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
更新時間:2025-04-29
產品型號:SuperViewW1
瀏覽量:595
中圖儀器3D白光干涉顯微測量儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
更新時間:2025-04-18
產品型號:SuperViewW1
瀏覽量:523
SuperViewW白光干涉非接觸式粗糙度儀以白光干涉技術為原理,用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時間:2025-04-09
產品型號:SuperViewW1
瀏覽量:564